OHM⁺ Fast GT-S RF IC Group Testing System
產品特色
- 半導體量產測試系統的最佳替代方案
- 建構完整的 ATE（自動化測試設備）解決方案，適用於 RF、混合訊號及 MEMS 半導體元件。
- 提供模組化軟體函式庫，協助快速開發、除錯與部署測試程式。
- 協助客製化 STS 組態、測試程式與負載板，以便與現有生產線整合。
- 提升測試效率、節省廠區空間並降低生產成本。
可擴展性
- 以四站（Quad Site）群組測試為基礎，可擴充至 16 測試站（16 Sites）
相容於次 8 GHz 與毫米波（mmWave）頻段的向下兼容設計
群組測試項目：EVM、ACPR、HMM、增益測試
- 誤差向量幅度（EVM）量測精度可達 -51 dB
- 全球最快 EVM 量測速度，可節省超過 40% 測試時間
通用 RF 介面與波形產生器（Universal RF Ports & Waveform Generator）
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測試頭（Test Head）內建埠模組，提供 SMA 母頭連接器
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頻率範圍：380 MHz 至 12 GHz
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512 MSa IQ 資料深度（採樣點數）
向量網路分析儀（VNA）
- 單次觸發即可完成高精度全 S 參數（S-parameter）群組量測
數位化模組（Digitizer）
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每模組具 16 個雙向通道（bidirectional channels）
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最多可同步 12 個模組（共 192 通道）
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可程式化邏輯電平範圍：-1.5 V ～ +6.5 V
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最高 250 MHz 的圖樣速率（支援 RZ 模式時脈產生）
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支援每位元任意波形定義（Arbitrary per-bit waveform definition）
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獨立通道控制功能：
1. 每通道／每時脈週期 I/O 控制
2. 每向量（vector）定時
3. 每週期定時
4. 1 ns 等級即時（on-the-fly）修改 -
每通道可程式化刺激／回應補償延遲
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每通道記憶體容量：最高 125 M 向量（vectors）
| 分析頻寬（Analysis Bandwidth） | 380 to 550 MHz 200 MHz 550 MHz to 1.31 GHz 600 MHz 1.31 to 12 GHz 1.2 GHz
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| 機箱規格（Chassis Specifications） |
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| 機箱結構（Chassis Structures） |
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